A63.7081 Schottky-Feldemissionskanone Rasterelektronenmikroskop Pro FEG SEM, 15x~800000x

A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x~800000x Featured Image

Kurze Beschreibung:

15x~800000x Schottky-Feldemissionskanone Rasterelektronenmikroskop
Elektronenstrahlbeschleunigung mit stabiler Strahlstromversorgung Ausgezeichnetes Bild bei niedriger Spannung
Die nichtleitende Probe kann direkt beobachtet werden, es muss nicht bei niedriger Spannung gesputtert werden
Einfache und freundliche Bedienoberfläche, alles mit der Maus im Windows-System gesteuert
Großer Probenraum mit fünf Achsen euzentrischer motorisierter Bühne Große Größe, max. Probendurchmesser 320 mm
Mindestbestellmenge:1

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Produktdetail

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Produktbeschreibung

A63.7081 Schottky-Feldemissionskanone Rasterelektronenmikroskop Pro FEG REM
Auflösung		1nm@30KV(SE); 3nm@1KV(SE); 2.5nm@30KV(BSE)
Vergrößerung		15x~800000x
Elektronenkanone		Schottky-Emissions-Elektronenkanone
Elektronenstrahlstrom		10pA~0.3μA
Beschleunigung von Voatage		0~30KV
Vakuumsystem		2 Ionenpumpen, Turbomolekularpumpe, mechanische Pumpe
Detektor		SE: Hochvakuum-Sekundärelektronendetektor (mit Detektorschutz)
		BSE: Halbleiter-Rückstreudetektor mit vier Segmentierungen
		CCD
Probenstadium		Euzentrischer Motortisch mit fünf Achsen
Reisebereich	X	0~150mm
	Y	0~150mm
	Z	0~60mm
	R	360º
	T	-5º~75º
Max. Probendurchmesser		320 mm
Änderung		EBL;STM;AFM;Heiztisch;Kryotisch;Zugtisch;Mikro-Nano-Manipulator;REM+Beschichtungsmaschine;REM+Laser etc.
Zubehör		Röntgendetektor (EDS), EBSD, CL, WDS, Beschichtungsmaschine usw.

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Vorteile und Fälle

Die Rasterelektronenmikroskopie (sem) eignet sich zur Beobachtung der Oberflächentopographie von Metallen, Keramiken, Halbleitern, Mineralien, Biologie, Polymeren, Kompositen und nanoskaligen eindimensionalen, zweidimensionalen und dreidimensionalen Materialien (Sekundärelektronenbild, Rückstreuelektronenbild). Es kann verwendet werden, um die Punkt-, Linien- und Oberflächenkomponenten der Mikroregion zu analysieren. Es ist weit verbreitet in Erdöl, Geologie, Mineralbereich, Elektronik, Halbleiterbereich, Medizin, Biologie, chemischer Industrie, Polymermaterialbereich, strafrechtliche Ermittlungen der öffentlichen Sicherheit, der Land- und Forstwirtschaft und anderer Bereiche.